高溫老化試驗房，是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器，各種工業(yè)設備等）仿真出一種高溫環(huán)境測試的設備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備，各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設備廣泛應用于工業(yè)設備、電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。

本老化試驗房采用組合拼裝式庫板結構，模塊化設計，根據(jù)不同的要求配置殼體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、進排風系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)等，通過此測試程序可檢查出不良品或

高溫老化試驗房，是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器，各種工業(yè)設備等）仿真出一種高溫環(huán)境測試的設備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備，各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設備廣泛應用于工業(yè)設備、電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。

1. GB2423.2-2001   試驗B：高溫試驗方法。

2.GJB360.8-87(MIL-STD-202F)  高溫壽命試驗。

 內(nèi)箱尺寸： 2000×3000×2000(W×D×H)mm (可定制)

 內(nèi)箱容積： 12m3

 溫度范圍： RT+10℃～+80℃

 冷卻方式： 風冷自然對流

 結構方式： 試驗室體采用組合拼裝式庫板結構,模塊化設計

 溫度偏差： ≤±2℃（空載時）

 升溫速率： ≥2℃/min